intelligent-lab

29.01.2019 17:45

Микроскопические исследования

Автор:  Растегаев Игорь Анатольевич
Оценить
(0 голоса)

Оборудование предназначенное для наблюдения, регистрации и измерения (оценки) микроскопического строения объектов исследования, размеры и время зарождения (существования) которых находятся за пределами разрешающей способности глаза



1. Инвертированный металлографический микроскоп Zeiss Axiovert 40 МАТ

позволяет автоматизированно производить панорамную количественную оценку качества структуры материалов по большинству Российских и зарубежных стандартов при научно-исследовательской работе и входном/выходном контроле материалов (ГОСТ 1778-70, ГОСТ Р ИСО 4967-2009, ГОСТ 5640-68, ГОСТ 22838-77, ГОСТ 10243-75, ГОСТ 8233-56, ГОСТ 30415-96, ГОСТ 30415-96, ГОСТ 9391-80, ГОСТ 5639-82, ГОСТ 1763-68, ГОСТ 3443-87, ГОСТ 9.908-85, РД 24.200.04-90 и др.)

Основные технические характеристики:
- Увеличение: 50х-1000х
- Методы исследования на отраженном свете: светлое поле (H), темное поле (D), дифференциально-интерференционный контраст (DIC), поляризация (Pol), флуоресценция (Fl)
- Методы исследования в проходящем свете: H, фазовый контраст (Ph), Pol
- Максимальное линейное поле зрения: 23 мм
- Предметный столик: 300х300 мм моторизированный 
- Оптика: тип ISC, объективы 5х/10х/20х/50х/100х, окуляры W-Pl 10х
- Освещение: встроенный источник света
- Система документирования: встроенная фото или видеокамера
- Программа обработки для количественного структурного и фазового анализа: Thixomet PRO согласно стандартов ASTM, DIN, ISO, ГОСТ


2. Стереоскопический микроскоп Zeiss Stemi 2000
позволяет проводить оценку структуры материалов при научно-исследовательской работе и входном/выходном контроле материалов, а также исследование макрообъектов диаметром от 1 до 118 мм при небольших увлечениях (в соответствии с ГОСТ 1778-70, ГОСТ Р ИСО 4967-2009, ГОСТ 5640-68, ГОСТ 22838-77, ГОСТ 10243-75, ГОСТ 8233-56, ГОСТ 30415-96, ГОСТ 30415-96, ГОСТ 9391-80, ГОСТ 5639-82, ГОСТ 1763-68, ГОСТ 3443-87, ГОСТ 9.908-85, РД 24.200.04-90 и др.)

Основные технические характеристики:
- Оптическая схема: схема Грену
Методы исследования на отраженном свете: светлое поле (H), темное поле (D), поляризация (Pol), флуоресценция (Fl), в косом освещении
- Увеличение: стандартное 6,5х-50х, максимальное 1,95х-250х
- Рабочее расстояние: 287...31 мм
- Поле зрение: 23, 16 и 10 мм
- Оптика: окуляры-10х,16х,25х; фронтальные линзы-0.3х,0.4х,0.5х,0.63х,1.25х,1.6х,2х
- Освещение: внешний источник света с гибкими световодами
- Система документирования: встроенная фото или видеокамера
- Программа обработки для количественного структурного и фазового анализа: Thixomet PRO согласно стандартов ASTM, DIN, ISO, ГОСТ


3. Сканирующий конфокальный лазерный микроскоп Olympus LEXT OLS4000
метрологическая система бесконтактного определения геометрических параметров, прецизионной топографии поверхности, измерения шероховатости и волнистости поверхности, расчета опорной кривой и др. параметров оценки поверхности образца/излома образца основанном на анализе 2D и 3D сканов рельефа

Основные технические характеристики:
- Увеличение: 108х-17280х
- Оптический источник/детектор: белый LED / CCD-матрица (2 мегапикселя)
- Лазерный источник/детектор: полупроводниковый лазер 450нм / PMT-детектор
- Разрешение по осям X и Y: не менее 120 нм
- Разрешение по оси Z: не менее 10 нм
- Шаг сканирования по оси Z: не менее 5 нм
- Точность: не хуже 0,2+(L-длина сканирования, мкм)/100 мкм
- Объективы/рабочая дистанция: 5х/20мм, 10х/11мм, 20х/1мм, 50х и 100х/0,35мм
- Предметный столик: 100х100 мм моторизированный
- Рабочее расстояние: 100 мм


4. Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Sigma
электронный микроскоп Sigma предназначен для исследования морфологии и химического состава материалов природного и искусственного происхождения с высокой разрешающей способностью

Основные технические характеристики:
- Полный диапазон увеличения без искажений: 12х - 1 000 000х
- Пространственное разрешение: 1,3 нм при 20 кВ, 1,5 нм при 15 кВ, 2,8 нм при 1 кВ
- Графическое разрешение: не хуже 3072х2304 пикселей
- Источник электронов: автоэмиссионный (термоэмиссионного типа)
- Диапазон ускоряющих напряжений: 100 В - 30 кВ
- Диапазон рабочего тока: 4 пА - 20 нА
- Рабочая камера: диаметр 365 мм, высота 270 мм
- Максимальный размер образцов для исследования: диаметр до 250 мм, длина до 145 мм
- Встроенные детекторы: In-lens, SE, AsB
- Аналитические приставки: EDS, EBSD
- Моторизованный 5-осевой предметный столик позиционирования образцов: X-125 мм,Y-125 мм,Z-50 мм, Наклон: 0 – 90°; Вращение: 360°
- Машина статических испытаний на растяжение/сжатие: Kammrath&Weiss
- Высокоскоростная видео камера: Photron FAST CAM SA3 120K-M2


5. Оптический профилометр Zygo NewView 7100
позволяет бесконтактно измерять топографию и микроструктуру поверхностей в трех измерениях по принципу сканирующей интерферометрии белого света

Основные технические характеристики:
- Вертикальное разрешение: 0,1 мкм
- Оптическое разрешение: 0,36 - 9,5 мкм (в зависимости от объектива)
- Скорость сканирования: до 26 мкм/с
- Максимальный размер зоны сканирования: до 20 мм
- Объективы: от 1х до 100х
- Предметный столик: моторизированный
- Максимальный размер образцов: 89х203х203 мм


6. Сканирующий зондовый микроскоп Solver NEXT
предназначен для получения трехмерного изображения (топографию) поверхности с атомарным разрешением и измерения её локальных характеристик

Основные технические характеристики:
- Режимы работы на воздухе и в жидкости: АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная) / Латерально-Силовая Микроскопия/ Отображение Фазы / Модуляция Силы / Отображение Адгезионных Сил / Литографии: АСМ (Силовая)
- Режимы работы только на воздухе: СТМ / МСМ / ЭСМ / СЕМ / Метод Зонда Кельвина / Отображение Сопротивления Растекания / Наносклерометрия /Литографии: АСМ (Токовая), СТМ
- Система регистрации отклонений кантилевера: автоюстировка
- Диапазон измерения линейных размеров в плоскости XY: 90 х 90 мкм (с датчиком обратной связи); 3 х 3 мкм (в режиме высокого разрешения)
- Диапазон измерения линейных размеров в плоскости Z: до 10 мкм (с датчиком обратной связи); до 2 мкм (в режиме высокого разрешения)
- Погрешность измерений в плоскости XY: +/- 1%
- Погрешность измерений по оси Z: +/- 5%
- Разрешение в плоскости XY: до 0,3 нм (с датчиком обратной связи)
- Разрешение по оси Z:до 0,04 нм (с датчиком обратной связи), до 0,02 нм (в режиме высокого разрешения)
- Нелинейность сканирования в плоскости XY с датчиком обратной связи: до 0,1 %
- Неортогональность сканера в плоскости XY: до 2°
- Неортогональность сканера по оси Z: до 5°
- Неплоскостность сканирования в плоскости XY: до 200 нм
- Максимальное число точек сканирования в плоскости XY: 4000 х 4000
- Диапазон позиционирования образца в плоскости XY: 5 х 5 мм (шаг 0,3 мкм)
- Разрешающая способность оптической системы видеонаблюдения: до 3 мкм
- Дрейф в плоскости XY: до 2 Ангстрем/с
- Дрейф по оси Z: до 1,5 Ангстрем/с
- Время выхода прибора на рабочий режим: до 5 мин
- Максимальный размер образцов: до 20 мм в диаметре, до 10 мм в высоту
- Масса исследуемых образцов: до 100 г
- Температурный контроль образца: от +25 до +150 °С   


7. Модернизированный рентгеновский дифрактометр ДРОН-2.0
предназначен для решения широкого круга аналитических, технологических и научно-исследовательских задач материаловедения в направлении исследования структуры любых поликристаллических материалов. Независимое вращение вокруг осей 2? и ? позволяет использовать прибор и для решения ряда задач монокристальной дифрактометрии

Основные технические характеристики:
- Метод сканирования: дифракция рентгеновского излучения
- Рентгенооптическая схема фокусировки: Брегга-Брентано
- Рентгеновская трубка: одна или две БСВ-10 или БСВ-8 с зеркалами анода Cu, Mo, Fe, Co
- Максимальное ускоряющие напряжения: 50 кВ
- Максимальный анодный ток: 60 мА
- Детектор: сцинтилляционный счетчик с ФУ
- Скорость счета квантов РИ и потери:  до 10000 имп/с не более 1,5%
- Диапазон углов сканирования: от минус 90 до плюс 164°
- Шаг движения детектора: от 0,01 до 1°
- Точность позиционирования детектора: 0,005°


8. Система анализа изображений uniDAC
Система анализа изображений uniDAC позволяет вести съемку интересующих процессов без потери качества (кадрами, в формате bmp), а затем вычислять поля деформации и перемещения объектов.
Максимальное разрешение – 1000х1000 пикселей.
Скорость съемки при максимальном разрешении – 60 кадров в секунду.
Диапазон возможных полей зрения: от 121х121 до 3х3 мм


9. Высокоскоростная цифровая видеокамера Photron FASTCAM SA3 120K-M2
Скорость съемки до 120 тыс. кадров в сек.
Максимальное разрешение 1024х1024 пикселей.
Минимальное поле зрения 250х250 мкм (c использованием оптической системы Navitar).


10. Тепловизионная система FLIR SC7700М
Универсальный тепловизор FLIR SC7700М позволяет регистрировать быстро меняющееся распределение температур по площади исследуемой поверхности с высоким пространственным разрешением и скоростью

Основные технические характеристики:

- Спектральный диапазон: MWB (3.7 - 4.8 мкм )
- Тип детектора: МСТ (шаг датчика 15 мкм, тактовая частота 20 МГц)
- Температурный диапазон измерения: 5 - 150 °C
- Точность измерения температуры: ±1 °C или ±1 %
- Температурная чувствительность (NETD): до 21 мК
- Разрешение: 640х512, 320х256, 160х128, 132х3 пикселей
- Скорость съемки: до 115 Гц в режиме 640х512, до 412 Гц - 320х256, до 1,1 кГц - 160х128, до 3 кГц - 132х3
- Объективы: 25 мм - 22°x 17° и Microscope lens G1 F/2 x1 - 9.6x7.7 мм
- Системы радиометрической калибровки: CNUC™ и Hypercal™ (позволяют не выполнять коррекцию неоднородности и работать в широком динамическом диапазоне)
- ПО термографического анализа: Altair
- ПО решения задач термомеханики и неразрушающего контроля: Altair LI


Изменено 07.04.2019 18:56

Календарь событий

« Августа 2019 »
Пн Вт Ср Чт Пт Сб Вс
      1 2 3 4
5 6 7 8 9 10 11
12 13 14 15 16 17 18
19 20 21 22 23 24 25
26 27 28 29 30 31  

Вход в систему

You are here: